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TT180N涂層測(cè)厚儀采用了渦流測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度（如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。本儀器能廣泛地應(yīng)用在電鍍、防腐、航天航空、化工、汽車、造船、輕工、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)的儀器。是一種便攜式測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、準(zhǔn)確地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。

TT180F涂層測(cè)厚儀采用了磁性測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體（ 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 ）上非磁性覆蓋層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等）。本儀器能廣泛地應(yīng)用在電鍍、防腐、航天航空、化工、汽車、造船、輕工、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)的儀器。是一種便攜式測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、準(zhǔn)確地進(jìn)行涂鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。

超聲波TOFD相控陣Ominscan SX是一款積累了20多年探索相控陣技術(shù)的經(jīng)驗(yàn)，體現(xiàn)了OmniScan精華的探傷儀。為了更加方便地使用儀器，OmniScan SX在其8.4英寸觸摸屏上使用了合理簡(jiǎn)化的新型軟件界面。OmniScan SX是一款單組無(wú)模塊儀器，針對(duì)檢測(cè)要求較低的應(yīng)用

超聲波TOFD相控陣OmniScan MX2開發(fā)的UT2模塊可為TOFD檢測(cè)提供性能強(qiáng)大且經(jīng)濟(jì)可靠的解決方案。Olympus在硬件和軟件方面的多項(xiàng)改進(jìn)可使操作人員更迅速、更方便地完成利用TOFD技術(shù)的焊縫檢測(cè)。改進(jìn)后所得到的優(yōu)質(zhì)信噪比可為TOFD檢測(cè)提供*的檢測(cè)數(shù)據(jù)信息。

MAGNA-MIKE 86001霍爾效應(yīng)測(cè)厚儀是一款利用簡(jiǎn)單的磁法對(duì)非鐵性材料進(jìn)行可靠且重復(fù)性高的厚度測(cè)量的便攜式測(cè)厚儀。Magna-Mike儀器的操作十分簡(jiǎn)單。測(cè)量時(shí)，在被測(cè)材料的一側(cè)按住或移動(dòng)磁探頭，在材料的另一側(cè)放上或在容器里放入一個(gè)小目標(biāo)鋼珠（或目標(biāo)圓盤、目標(biāo)鋼線）。探頭的霍爾效應(yīng)傳感器測(cè)量探頭端部到目標(biāo)鋼珠的距離。測(cè)出的距離即刻被作為厚度讀數(shù)以彩色大字體形式顯示在屏幕上。

便攜式MG2系列腐蝕測(cè)厚儀包括MG2,MG2-XT和MG2-DL,小巧、堅(jiān)固耐用，操作簡(jiǎn)單，是測(cè)量有內(nèi)部腐蝕的部件理想的便攜式測(cè)厚儀。測(cè)厚儀使用雙晶探頭,從被測(cè)物體的一面就可以測(cè)量被腐蝕、有凹痕、被氧化或呈粒狀等其它較難測(cè)量物體的厚度。有多種探頭可選。可對(duì)厚度在0.5mm--635mm之間,溫度在-20C°--+500C°之間的物體進(jìn)行測(cè)量。

經(jīng)濟(jì)型超聲波測(cè)厚儀27MG是一款經(jīng)濟(jì)實(shí)用的超聲測(cè)厚儀，其設(shè)計(jì)目的是從一側(cè)對(duì)內(nèi)部受到腐蝕或侵蝕的金屬管道、箱罐及其它設(shè)備進(jìn)行精確的測(cè)量。這款儀器重量?jī)H為340克，設(shè)計(jì)符合人體工程學(xué)，可以使用單手方便地進(jìn)行操作。雖然27MG的機(jī)身小巧，但是卻具有很多創(chuàng)新型測(cè)量性能，其所使用的檢測(cè)技術(shù)與我們更高級(jí)的測(cè)厚儀所使用的技術(shù)相同。堅(jiān)固耐用的27MG使用電池供電，帶有寬大的背光LCD屏幕，屏幕上顯示易于解讀的數(shù)字

多功能超聲波測(cè)厚儀38DL PLUS是一款開創(chuàng)超聲測(cè)厚技術(shù)新時(shí)代的創(chuàng)新型儀器。這款手持式測(cè)厚儀可完美地適用于幾乎所有超聲測(cè)厚應(yīng)用，而且與所有雙晶和單晶探頭*兼容。功能齊全的38DL PLUS測(cè)厚儀可用于各種應(yīng)用，包括使用雙晶探頭對(duì)內(nèi)壁腐蝕的管件進(jìn)行的管壁減薄的測(cè)量，以及使用單晶探頭對(duì)薄壁或多層材料進(jìn)行的極其精確的壁厚測(cè)量。